トリプル四重極ICP-MSによるヒ素、セレン分析における希土類元素２価イオン干渉の低減法の検討

抄録

生体内や環境中のヒ素(As)、セレン(Se)濃度の監視は、その潜在的毒性から重要といえる。誘導結合プラズマ質量分析法(ICP-MS)はこの用途で最も優れた手法のひとつだが、⁷⁵As⁺に対する⁴⁰Ar³⁵Cl⁺, ¹⁵⁰Sm⁺⁺や、⁸⁰Se⁺に対する⁴⁰Ar₂⁺, ¹⁶⁰Gd⁺⁺などの干渉が問題となる。これを回避すべく、最新のトリプル四重極ICP-MS(ICP-MS/MS)を用いたO2あるいはO2/H2混合ガスリアクションモードによる¹⁶Oマスシフト法が提案されている。しかし本手法では、反応セル内でSmO₂⁺⁺やGdO₂⁺⁺などの新たな干渉イオン(REEO₂⁺⁺)を副次的に生成する可能性がある。そこで本研究では、干渉影響の最小化を目的とし、REEO₂⁺⁺干渉生成率と装置条件の関係を系統的に調査した。その結果、As, Seの同位体全てにREEO₂⁺⁺が干渉しうることが確認された。またREEO₂⁺⁺生成率はH₂流量と概ね正の相関関係にあり、その生成経路へのH2の関与が示唆された。一方で、H₂の存在はAsO⁺, SeO⁺生成率を増加させるため、As, Se感度を優先してH₂流量を決定した場合、重大な干渉を生じる可能性がある。