顔画像のPCA-SIFT特徴による耐環境性評価

牧岡 毅; 里中 孝美; 小田 亮介; 平戸 優一; 上瀧 剛; 内村 圭一

doi:10.11527/jceeek.2012.0_448

平成24年度電気関係学会九州支部連合大会（第65回連合大会）講演論文集

セッションID: 09-2A-14

DOI https://doi.org/10.11527/jceeek.2012.0_448

会議情報

主催: 電気関係学会九州支部連合大会委員会

会議名: 平成24年度電気関係学会九州支部連合大会

回次: 65

開催地: 長崎大学

開催日: 2012/09/24 - 2012/09/25

顔画像のPCA-SIFT特徴による耐環境性評価

*牧岡毅, 里中孝美, 小田亮介, 平戸優一, 上瀧剛, 内村圭一

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抄録

2次元画像認識では，表情変化，姿勢，カメラ，照明などの撮影条件に認識性能が依存する．本研究では，顔画像のPCA-SIFT特徴を用いて，認識システムを構成し，それらの変化が認識性能に与える影響を定量的に評価する．種々のデータベースを用い，表情変化，姿勢，照明などの撮影条件において実験を行い，重要な特性を示すことができた．

責任著者(Corresponding author)

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