D/Aコンバータを用いた直接磁場の補償による磁気ナノ粒子トモグラフィの位置推定精度の評価

抄録

近年、磁気ナノ粒子を用いた新しい画像診断技術として磁気粒子イメージングが注目されているが、強い傾斜磁界の生成が困難であることや強い磁気刺激を与えるという問題がある。そこで傾斜磁界を用いない新たな手法として磁気ナノ粒子トモグラフィが提案された。本手法では励起コイルの直接磁場の除去に共振回路を用いるが、先行研究では直接磁場の影響が大きく、検出した第三高調波信号の増幅に影響が出ていた。本稿では、励起コイルからの直接磁場をD/Aコンバータを用いて電子的に補償を行う方法を提案し、得られた位置推定結果に対する精度の評価を行った。その結果、磁気ナノ粒子を深さ50 mmにおいて誤差10 mm程度で推定できた。