Journal of Surface Analysis
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解説
AESおよびXPS装置の発展と展望
岩井 秀夫
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2009 年 16 巻 2 号 p. 114-126

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抄録

 AESおよびXPSは,鉄鋼製品や自動車部品,半導体,新素材等の表面の分析に広く用いられている.これらの製品や材料は時代と共に微細化の方向をたどり,それに対応するためにAESとXPS装置も高空間分解能化の方向で改良が加えられ発展してきた.この報告では,空間分解能を中心としたAESとXPSの装置の発展と今後の展望について触れる.

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© 2009 一般社団法人 表面分析研究会
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