月面その場物質分析におけるコンタミ付着による岩石試料分析精度への影響

抄録

JAXAが検討中の月面軟着陸機計画において、我々は岩石試料を採取し、加工・分析する観測装置(SIP)の搭載を提案している。SIPでは、採取試料を研削し、研磨面をX線蛍光回折(XRF/XRD)およびマクロ分光分析することで、岩石の成因や母岩の特徴解明を目指す。本研究は、要求される研磨面粗さと、採取時に付着しているレゴリスや研削時発生するコンタミの分析精度への影響を明らかにするものである。今回は、実際に起こりえる測定条件の下、採取が予想される岩石を用いてXRF強度を測定した結果を報告する。