マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第24回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第24回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
Interconnect Stress Test方法によるプリント配線板接続信頼性の加速相関評価
*安陪 光紀, 菅根 光彦
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p. 331-334

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