最新の粉体物性測定技術

抄録

様々な工業製品には粉体技術が大きくかかわっている。製品の高機能化が進む中，製造プロセスにおいてより高度な粉体技術が用いられるようになり，それに伴い粉体の評価技術にも進化が求められている。粒子の形状評価や，ごく少量含まれる粗大粒子の評価には，画像解析法による粒子径測定が有効である。本稿では，動的画像解析装置「パーシェアナライザ^®」の特徴を，実際の粉体測定例と共に紹介する。また粒子径分布と帯電量分布を測定する「イースパート アナライザ^®」の原理と測定例についても説明する。