2015 年 15 巻 11 号 p. 511-516
走査電子顕微鏡(SEM)は,ナノメーターの分解能で様々なサンプルを直接観察が可能な装置である。これまで,SEMで溶液中の試料を観察できる,様々な大気圧試料ホルダーが開発されてきた。 しかし,こうした大気圧ホルダーは,電子線を直接溶液中の試料に入射するため電子線ダメージが生じる。 さらに,非常にコントラストが低く試料の観察が困難であった。最近,我々は,溶液中の試料をダメージ無く,高コントラストで観察する新たな装置を開発した。この方法では,溶液中の生物試料やナノ粒子,有機材料等を直接簡便に観察することが可能である。