北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター
2004 年 73 巻 3 号 p. 333-338
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GaNあるいはAlGaN/GaNヘテロ構造を用いた電界効果トランジスタの研究開発は,最近,特に日本からの寄与によってその進展は著しい.しかし,電流コラプスやゲート漏れ電流など,表面に深く関連する不安定性の問題は未解決であり,その機構の解明と制御が求められている.ここでは,「表面の問題」として漠然と扱われてきたいくつかの現象を整理するとともに,欠陥制御の立場から,電子デバイスの表面不活性化について述べる.
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