半導体は放射線に脆弱(ぜいじゃく)でソフトエラーと呼ばれる誤動作を起こす.ソフトエラーは解決済みの古い問題と誤解されることがあるが,実際は現在進行形で社会経済インパクトをもたらしている.現在,半導体のソフトエラー信頼性を評価するには放射線を当てなければならない.地上用であれ宇宙用であれ,当てなければほとんどわからない.ソフトエラーが放射線のエネルギー付与によって起きる以上,当てることは本質的で避けられないように思える.だが,果たして本当にそうなのだろうか.本研究はこの問いに取り組んでいる.放射線を当てずにソフトエラー信頼性を言い当てる魔法のような方程式を探している.