応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
研究紹介
魔法のソフトエラー信頼性方程式を探して
小林 大輔廣瀬 和之
著者情報
ジャーナル フリー

2023 年 92 巻 2 号 p. 89-93

詳細
抄録

半導体は放射線に脆弱(ぜいじゃく)でソフトエラーと呼ばれる誤動作を起こす.ソフトエラーは解決済みの古い問題と誤解されることがあるが,実際は現在進行形で社会経済インパクトをもたらしている.現在,半導体のソフトエラー信頼性を評価するには放射線を当てなければならない.地上用であれ宇宙用であれ,当てなければほとんどわからない.ソフトエラーが放射線のエネルギー付与によって起きる以上,当てることは本質的で避けられないように思える.だが,果たして本当にそうなのだろうか.本研究はこの問いに取り組んでいる.放射線を当てずにソフトエラー信頼性を言い当てる魔法のような方程式を探している.

著者関連情報
© 2023 公益社団法人応用物理学会
前の記事 次の記事
feedback
Top