精密工学会学術講演会講演論文集
2002年度精密工学会秋季大会
セッションID: J32
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プラナリゼーションCMPとその応用(4)
Cu-CMP用FX-CMP砥石の開発
*山口 宇唯, 片桐 創一, 貝瀬 正博, 金井 史幸, 本田 実
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抄録
 近年Cuダマシン配線平坦化技術としてCMPが急速に普及している。しかし,CMPは研磨パッドの弾性率不足に起因して,ディッシングやエロージョンが発生する課題がある。そこで上記課題解決のため,固定砥粒工具(砥石)によるCuダマシン配線層の新しい平坦化技術としてFX-CMP(Fixed Abrasive CMP)を提案し,FX-CMP砥石の砥粒及び仕様を基礎検討した。検討の結果,ヒュームドシリカ砥石が,Cuとバリア膜を同時に加工できることを見出し,研磨速度Cu:205nm/min,Ta/TaN:83nm/min,酸化膜:1.5nm/minを得て,シングルステップで平坦化できることが分かった。
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© 2002 公益社団法人 精密工学会
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