主催: 社団法人精密工学会
東京農工大学 工学部 機械システム工学科
埼玉医科大学 保健医療学部 医用生体工学科
フジ・オプトテック
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工業分野の製品検査において,数μmオーダーでの高精度な計測が求められている.本研究では,液晶格子を用いることで光切断法による三次元形状計測の高精度化を行う.液晶格子は電気制御でスリットパターンを自在に変え,スキャンすることができる.液晶格子とCCDカメラの読み出し信号とを同期させ,サブピクセルの分解能を得ることで高精度な形状計測を行う.
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