高速走査型２次元 XRF 法を利用した蛍光 CT 法の開発

抄録

　Ｘ線 CT(XAFS) 法は現在多くの場合透過法でのみ活用されており、低濃度元素の分析には適用不可である。本課題は蛍光Ｘ線を利用した CT 法である走査型蛍光 CT 法を利用して複数元素の検出及び分布を得ることができるのかの検証を行った。本報告では実際の計測で得られた結果と今後の課題について報告する。