励起エネルギー掃引オージェ測定による化学状態選別 XAFS 分析

抄録

　本研究では、Ti K と Cu K の各吸収端近傍で照射Ｘ線のエネルギーを走査しながら静電半球型電子分光器を用いてオージェ電子のエネルギー分布を測定し、特定のエネルギー範囲を抽出することで、複数の化学状態の同一元素が混在する場合に化学状態別のＸ線吸収微細構造(XAFS)スペクトルが得られるか検討した。