軟Ｘ線 XAFS を用いた Al-Zn-Mg 合金において形成されるナノクラスタ構造の測定

抄録

　Al-4Zn-1Mg 合金や Al-1Zn-4Mg 合金は溶体化急冷直後に大きな反磁性成分を示し、Al-4Zn-1Mg 合金では室温保持により急速に反磁性成分が消滅する。この反磁性成分を示す原因となる微細構造を調べるため、軟Ｘ線 XAFS 法により Zn-L、Mg-K XANES 測定を行った。その結果、Al-4Zn-1Mg 合金における室温保持による反磁性成分の減少は、Zn 原子周りの構造変化に起因して生じると考えられた。