ゴム中不均一構造のＸ線位相差 CT 観察（２）

抄録

　放射光の高輝度・高コヒーレンスを利用した位相コントラスト結像型Ｘ線 CT を用いることで汎用Ｘ線 CT 装置では一般に検出困難な有機成分主体の異物について正確かつ詳細な把握が可能となるか検討した。同手法を用いてゴム中に混在する異物粒子とゴムの界面構造を詳細に観察した結果、界面近傍に異物やゴム（マトリクス）とは異なる密度を持つ層構造の存在が初めて見出された。