コヒーレント回折XAFS法を⽤いた空間分解XAFS計測法の開発

抄録

　現在の光学素子を用いた空間分解 XAFS による空間分解能はおよそ 100 nm 程度であり、より高い空間分解 XAFS 計測が必要とされている。今回我々はコヒーレント回折イメージング法を応用した空間分解 XAFS 計測法を構築し、触媒試料に対する空間分解 XAFS 計測を初めて試みた。本報告では実際の計測で得られた結果と今後の課題について報告する。