和周波発生分光法による摩擦界面のその場観察

抄録

せん断場での分子配向を調べるためには、分子レベルの感度で埋もれた界面を測定可能な手法が必要である。我々は表面・界面に敏感で分子の配向に関する情報が得られ、かつ液中での測定が可能な和周波発生分光分析法に着目し、これに摩擦試験機を組み込んだその場観察装置を開発した。本講演では、和周波発生分光その場観察摩擦試験機を用いた油性剤分子吸着膜のしゅう動条件下における分子挙動を測定した結果について報告する。