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エレクトロニクス実装学会誌
Online ISSN : 1884-121X
Print ISSN : 1343-9677
ISSN-L : 1343-9677
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特集/次世代基板実装を支える検査技術 (5)
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バウンダリスキャン
テストとインサーキットテストの併用によるテスタビリティの向上
水野 孝一
エレクトロニクス実装学会誌
2021年 24 巻 7 号 653-658
発行日: 2021/11/01
公開日: 2021/11/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.24.653
ジャーナル
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(775K)
アナログと高速伝送回路のための
バウンダリスキャン
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2020年 23 巻 2 号 192-196
発行日: 2020/03/01
公開日: 2020/03/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.23.192
ジャーナル
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(1447K)
JTAGテスタとフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッドテストシステムの最新動向
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2024年 27 巻 1 号 123-128
発行日: 2024/01/01
公開日: 2024/01/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.27.123
ジャーナル
認証あり
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(1318K)
チップレット実装を支える
バウンダリスキャン
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2023年 26 巻 1 号 102-105
発行日: 2023/01/01
公開日: 2023/01/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.26.102
ジャーナル
認証あり
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(1199K)
バウンダリスキャン
研究会の歩みと展望
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2022年 25 巻 1 号 96-100
発行日: 2022/01/01
公開日: 2022/01/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.25.96
ジャーナル
認証あり
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(624K)
バウンダリスキャン
設計の現状と展望
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2021年 24 巻 1 号 96-98
発行日: 2021/01/01
公開日: 2021/01/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.24.96
ジャーナル
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(510K)
JTAG
バウンダリスキャン
テストの現状と展望
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2020年 23 巻 1 号 99-102
発行日: 2020/01/01
公開日: 2020/01/08
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.23.99
ジャーナル
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(931K)
バウンダリスキャン
研究会の発足と活動状況
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2019年 22 巻 1 号 89-92
発行日: 2019/01/01
公開日: 2019/01/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.22.89
ジャーナル
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(765K)
やさしい解説
バウンダリスキャン
テストの仕組み
小林 正
エレクトロニクス実装学会誌
2021年 24 巻 7 号 644-648
発行日: 2021/11/01
公開日: 2021/11/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.24.644
ジャーナル
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(757K)
古くて新しい
バウンダリスキャン
技術
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2019年 22 巻 6 号 579-582
発行日: 2019/09/01
公開日: 2019/09/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.22.579
ジャーナル
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(877K)
バウンダリスキャン
技術におけるテスト容易化設計とその最新状況
亀山 修一, 高橋 寛
エレクトロニクス実装学会誌
2018年 21 巻 5 号 405-410
発行日: 2018/08/01
公開日: 2018/08/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.21.405
ジャーナル
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(1399K)
バウンダリスキャン
規格の適用拡大と最新動向
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2021年 24 巻 1 号 154-161
発行日: 2021/01/01
公開日: 2021/01/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.24.154
ジャーナル
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(1460K)
部品内蔵基板の品質保証に必須となる
バウンダリスキャン
技術
部品内蔵技術委員会
エレクトロニクス実装学会誌
2018年 21 巻 1 号 57-61
発行日: 2018年
公開日: 2018/01/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.21.57
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(1486K)
検査技術の動向―電気検査
小林 正
エレクトロニクス実装学会誌
1999年 2 巻 4 号 259-263
発行日: 1999/07/01
公開日: 2010/03/18
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.2.259
ジャーナル
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(2139K)
チップ間接続の半断線検出のための検査容易化設計手法
四柳 浩之
エレクトロニクス実装学会誌
2023年 26 巻 2 号 198-202
発行日: 2023/03/01
公開日: 2023/03/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.26.198
ジャーナル
認証あり
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(668K)
バウンダリスキャン
のHALTへの活用
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2020年 23 巻 7 号 588-592
発行日: 2020/11/01
公開日: 2020/11/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.23.588
ジャーナル
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(1065K)
バウンダリスキャン
研究の最前線
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2020年 23 巻 6 号 539-542
発行日: 2020/09/01
公開日: 2020/09/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.23.539
ジャーナル
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(955K)
バウンダリスキャン
導入により成功したアズビル太信(株)様へのインタビュー
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2020年 23 巻 4 号 287-291
発行日: 2020/07/01
公開日: 2020/07/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.23.287
ジャーナル
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(2670K)
バウンダリスキャン
テスト容易化設計
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2020年 23 巻 3 号 243-247
発行日: 2020/05/01
公開日: 2020/05/01
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.23.243
ジャーナル
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(1353K)
バウンダリスキャン
のためのBSDLファイル
バウンダリスキャン
研究会
エレクトロニクス実装学会誌
2020年 23 巻 1 号 112-115
発行日: 2020/01/01
公開日: 2020/01/08
DOI
https://doi.org/10.5104/jiep.23.112
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