QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路

抄録

QFP ICをプリント配線板にはんだ付けする際に発生するリード浮きを電気的に検出する検査法を我々は現在開発中である。本稿では複数個のリードを同時に検査することができる検査回路とその回路の設計法を提案する。またその検査回路によりQFP　ICのリード浮きが検出できることを明らかにする。