抄録
プラズマを用いた薄膜形成プロセスにおいては、薄膜堆積基板上に電子や光子の他に、
様々な中性粒子種と荷電粒子種が種々の内部エネルギーと運動エネルギーをもって入射する。
基板入射エネルギー束におけるこれらの各成分の割合と絶対値の把握は、バルクプラズマと膜質・成膜速度の理解と制御に不可欠である。当研究室では、種々のサーマルプローブを用いてこれまで、基板入射熱流束を測定してきた。今回、空間分布計測可能な可動式サーマルプローブを新たに作成し、内部アンテナ式ICPにおける基板入射エネルギー束の空間分布を計測した。
講演では、得られた基板入射エネルギー束をプラズマパラメータや膜特性と比較検討する。