エレクトロニクス実装学会誌
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研究論文
画像処理による表面むらおよび粒子の識別手法
原 靖彦田中 宏卓白井 健二菅野 純一細島 侑滝沢 義信
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2018 年 21 巻 4 号 p. 293-298

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抄録

本研究では比較的大きなむらと比較的小さな粒子(細長い粒子・濃い粒子を含む)を識別する手法について報告する。従来の研究例では,むらと粒子が混在する画像にフーリエ変換を適用し,特定帯域の周波数成分のみを取り出すマスクを適用することにより特定の大きさの粒子あるいはむらを検出することができた。しかし細長い粒子や濃い粒子は広い帯域の周波数成分を含むため,むらを検出するマスクを適用すると,むらと共に細長い粒子や濃い粒子を検出してしまい,むらのみを検出できなかった。そこで先ず比較的小さな粒子画像を検出し,次にこの画像を用い原画像から粒子を抑制した画像を作成した。この画像から,むらのみを検出することができた。

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© 2018 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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