エレクトロニクス実装学会誌
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低コスト・高信頼ウエハプロセスパッケージ“WPP-2”の開発
風間 敦佐藤 俊也山口 欣秀安生 一郎西村 朝雄
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2002 年 5 巻 3 号 p. 264-271

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抄録
ウエハレベルCSPでは, CSPの製造コスト低減と, はんだ接続部の信頼性確保の両立が課題となっている。そこで本研究では, パッケージ内部に応力緩和層を内蔵することにより, 100mm2程度の大チップでも, アンダーフィルレス実装条件で, -55/125℃の温度サイクル寿命1000回以上を達成できるウエハレベルCSPを開発した。有限要素法解析を用いて応力緩和層への仕様を明らかにし, 弾性率約1000MPa, 厚さ約75μmで, 上記信頼性が確保できることを明らかにした。解析仕様に基づく試作サンプルの温度サイクル試験では, 1400回まで不良が発生せず, 目標の信頼性を実現した。
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© 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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