解説
二次の非線形光学像で観察する固体表面と植物
2008 年 15 巻 1 号 p. 2-15
詳細
2008 年 15 巻 1 号 p. 2-15
固体中や生体中の非対称構造の分析法として，光第二高調波（SH）及び光和周波（SF）顕微鏡を開発した．本稿では，SH，SF顕微鏡を用いた最近のいくつかの研究例について紹介する．SH顕微鏡によるPt単結晶上のCOの酸化の分布像，多層金属膜の仕事関数を反映していると思われる像，Agの回折格子の像，砒素イオン打ち込みを行ったSi基板の電子状態の分布像，レーザーパルスによる水素終端Si表面からの水素脱離の空間分布像，について述べる．また，水草中のデンプン粒子のSHおよびSF像による非破壊化学分析について説明する．これらの観察より，SH及びSF顕微鏡によって媒質中または媒質表面の非対称な構造の分布の観測が可能であることを実証する．
