抄録
(1) X線ディフラケトメーターを使用して, 食パン貯蔵中, でんぷんの老化にもとづく回折曲線の変化を検討した結果, 時間の経過に伴ってβ化による回折強度が次第に増大し, 特にはじめの1日において著しいことを認めた。
(2) でんぷん質を原料にしたいくつかの菓子類についてそのX線回折曲線および酵素による消化試験からでんぷんのα化の状態を吟味し, 両者による結果がよく一致してα化の程度をあらわすこと, かりんとう, おこし, あられではα化は殆ど完全であるのに対しビスケットのあるもの, ポーロではそれが非常にわるいことを知った。
本研究は大阪大学産業科学研究所二国研究室にて行なったもので, 終始御懇篤な御指導を賜わった二国二郎先生に厚く感謝するとともに, 実験に種々援助をはかられた同研究室の檜作進博士, でんぷんのα化度測定方法にっいて御教示を賜わった農林省食糧研究所の渡辺長男氏に御礼申上げる。また研究の機会を与えられた防衛庁技術研究本部および同第2研究所の関係各位に謝意を表する。
