解説
高密度励起ビームによる二次イオン質量分析法の有機・生体材料への新展開
2010 年 79 巻 4 号 p. 326-330
詳細
2010 年 79 巻 4 号 p. 326-330
クラスターイオンや高速重イオンをプローブとすることにより，従来のSIMS分析では不可能な有機多層膜の深さ分析や生体高分子材料の二次元イメージングが可能となってきた．細胞１個中の生体高分子の分布を可視化する質量イメージング技術や有機半導体多層膜の構造分析を可能とする“Molecular Depth Profiling”など最新の研究成果を示し，従来不可能と考えられてきた有機分子の分析技術の最先端を紹介する．
