精密工学会学術講演会講演論文集
2010年度精密工学会春季大会
セッションID: L09
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トポロジカルな偏光計(第2報)
軸対称1/4波長板の二色性の除去
*若山 俊隆大谷 幸利吉澤 徹
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抄録
偏光計測法の多くは、偏光状態が均一なプローブ光を使用している。我々のグループは、偏光の特異点を有したビームの生成を行い、これを偏光計測法に利用する手法を提案している。現在までに2つの軸対称1/4波長板を用いたトポロジカルなミュラー行列偏光計を提案してきた。今回は軸対称1/4波長板自身のもつ二色性の影響を考慮し、測定性能の向上を行った。また、旋光性と複屈折性を併せもつ楕円複屈折の影響をポアンカレ球上で評価した。
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© 2010 公益社団法人 精密工学会
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