SPring-8/SACLA利用研究成果集
Online ISSN : 2187-6886
Section A
高エネルギーX線全散乱とX線吸収分光法による SiO2 担持 Pd ナノ粒子の構造解析
村田 和優田村 武裕小菅 大智尾原 幸治薩摩 篤大山 順也
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ジャーナル オープンアクセス

2024 年 12 巻 4 号 p. 185-189

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抄録
 本研究では、高エネルギーX線全散乱とX線吸収分光法によって SiO2 担持 Pd ナノ粒子の構造解析を行った。高エネルギーX線全散乱の PDF 解析によって求めた動径分布関数から、最大で 3 nm までの Pd ナノ粒子の長距離秩序を確認した。更に、X線吸収分光法によって Pd ナノ粒子の局所構造を解析した。Pd ナノ粒子の粒子サイズが 7 nm よりも小さくなると、Pd-Pd 結合距離が短くなることが分かった。Pd ナノ粒子の CO 酸化活性を評価すると、Pd-Pd 結合距離が短い Pd ナノ粒子の CO 酸化活性が高かった。
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