JTAGバウンダリスキャンとX線CT検査による狭ピッチBGA実装基板の故障解析事例

エレクトロニクス実装学会誌

Online ISSN : 1884-121X
Print ISSN : 1343-9677
ISSN-L : 1343-9677

特集／バウンダリスキャン技術の最新動向

JTAGバウンダリスキャンとX線CT検査による狭ピッチBGA実装基板の故障解析事例

谷口正純, 野口健二

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ジャーナルフリー

2021 年 24 巻 7 号 p. 659-662

DOI https://doi.org/10.5104/jiep.24.659

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