エレクトロニクス実装学会誌
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はんだのクリープ特性に及ぼす微視組織の影響
西山 達也纐纈 英之高橋 恭平小川 武史大澤 直
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2006 年 9 巻 3 号 p. 162-170

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抄録

Sn-37Pb, Sn-3.5Ag, Sn-3.0Ag-0.5Cu, Sn-5.0Sbの4種類のはんだについて, ナノインデンテーション試験および細線はんだのクリープ試験を行い, クリープ特性に及ぼす微視組織の影響を明らかにした。ナノインデンテーション試験結果より, Sn-37PbはSn-richおよびPb-rich両相のクリープ特性に差異は見られなかったが, Sn-3.5Ag, Sn-3.0Ag-0.5Cu, Sn-5.0SbにおいてはSn-rich相だけが顕著なクリープ特性を示した。また, 細線はんだのクリープ特性は結晶組織の粒径のサイズに依存していると考えられた。

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© 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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