ソフト界面の分子膜の精密構造解析Ⅱ：X 線反射率法

抄録

X線反射率法は，表面･界面のナノ構造を非破壊かつ高精度で解析できる非常に有用な手法である。その原理を簡単に解説した後，イオン性両親媒性高分子が水面上で形成する単分子膜のナノ構造，とくに水面下に形成される高分子電解質ブラシのナノ構造とその転移に応用した例を紹介する。強酸性ブラシと弱酸性ブラシでは，その形成機構が異なり，添加塩に対する応答性も異なる様子などを定量的に知ることができる。