オレオサイエンス
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特集総説論文
ソフト界面の分子膜の精密構造解析Ⅰ:X線吸収分光法
谷田 肇原田 誠瀧上 隆智永谷 広久
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2012 年 12 巻 1 号 p. 11-16

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抄録
液液界面(油水界面)における構造解析法として,X-ray Absorption fine structure(XAFS)法を用いた手法が新しく開発されている。この方法を用いることにより,界面に存在する化学種を直接測定することにより,濃度や化学状態,分子配向,溶媒和構造などの情報をin situで得ることができる。本稿では,臭化物イオンや亜鉛イオンなどを含む界面化学種への応用について解説する。
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© 2012 公益社団法人 日本油化学会
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