抄録
本研究では'清見'果実のこはん症発生に伴うK+漏出量ならびに組織構造の変化を調べた。
ごはん症は8℃へ昇温するより20℃に昇温した'清見'に顕著に現礼ポリエチレン包装によって軽減された。
20℃へ昇温した果実のK+漏出量は障害発生時に急増し, 増加は8℃へ昇温した場合より多かった。両昇温区とも無包装'清見'のK+漏出量は包装果実の漏出量より多かった。
走査型電子顕微鏡による観察では, '清見'のこはん症の陥没は油胞間の表皮から数層内部の柔組織細胞の変形によって引き起こされ, 表皮細胞や油胞の破壊によって陥没するのではないことが明らかとなった。
