エレクトロニクス実装学会誌
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Pbフリーはんだ接続部におけるはんだめっき中のPbの熱疲労信頼性への影響
平野 伸一西浦 正孝筒井 希代子
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2001 年 4 巻 1 号 p. 41-46

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抄録
環境保護の観点からPbフリーはんだの開発が進められている。Bi含有Pbフリーはんだにおいては, はんだめっき中のPbがBiと反応し低融点物質を形成するため, 熱疲労信頼性を低下させると言われている。そこでBi含有Pbフリーはんだにおけるはんだめっき中のPbの熱疲労信頼性への影響を調査した。その結果, Bi含有はんだ (4.5mass%超) については, 部品がはんだめっきの場合, Sn-Bi-Pbの3元共晶 (融点約100℃) を形成し熱疲労信頼性を低下させるが, Snめっきの場合にはSn-Bi-Pbの3元共晶は形成されず, 熱疲労信頼性の低下も見られず, Sn-Ag-Cuとほぼ同等の熱疲労信頼性を示すことが確認された。
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© 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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