JIS R 5204に示されるセメントの蛍光X線分析方法に示されるガラスビード作製方法とJIS A 6201のXRF-ブリケット法で定める検量線法を適用して5種類のフライアッシュを対象に4測定機関で1試料繰返し数3としてSiO2,Al2O3,Fe2O3,Na2O,K2Oを定量した。一部の機関で分析精度を高めるためにガラスビード作製時の手順の見直しとXRF分析装置を用いた定量分析時の検量線設定精度を高める必要があるが,JIS A 6201のXRF分析法におけるブリケット試料をガラスビード試料に置き換えた場合でも比較的高い分析精度を確保した状態でSiO2と併せてAl2O3,Fe2O3,Na2O,K2Oの各成分を分析できることを確認した。