巻号一覧
16 巻 (2019)
- 5 号 p. 75-
- 2 号 p. 28-
- 1 号 p. 4-
16 巻, 1 号
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渡邉 昇, 高橋 正彦原稿種別: 解説
2019 年 16 巻 1 号 p. 4-
発行日: 2019年
公開日: 2022/12/20
ジャーナル フリー高速電子の非弾性散乱実験である電子エネルギー損失分光 EELS は，分子の電子構造や電子励起過程を調べる上で強力な実験手法である．しかしながら，標的気体分子のランダムな空間配向により実験結果は分子方向について平均化さてしまい，標的波動関数の形状異方性や電子‐分子立体衝突ダイナミクスに関する情報が失われていた．我々は非弾性散乱電子と解離イオンの同時計測により，電子衝突時における分子軸方向を特定した上で電子散乱断面積を測定する解離イオン同時計測 EELS法の開発を進めてきた．本稿では，製作した分光装置と測定原理について解説するとともに，N2 分子を対象とした実験結果について議論する．
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