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Journal of Surface Analysis
Online ISSN : 1347-8400
Print ISSN : 1341-1756
ISSN-L : 1341-1756
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Journal of Surface Analysis
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巻号一覧
30 巻 (2023)
2 号 p. 88-
1 号 p. 1-
29 巻 (2022)
3 号 p. 144-
2 号 p. 71-
1 号 p. 1-
28 巻 (2021)
3 号 p. 159-
2 号 p. 85-
1 号 p. 1-
27 巻 (2020)
3 号 p. 148-
2 号 p. 77-
1 号 p. 1-
26 巻 (2019)
3 号 p. 227-
2 号 p. 92-
1 号 p. 2-
25 巻 (2018)
3 号 p. 165-
2 号 p. 79-
1 号 p. 2-
24 巻 (2017 - 2018)
3 号 p. 175-
2 号 p. 107-
1 号 p. 2-
23 巻 (2016)
3 号 p. 138-
2 号 p. 73-
1 号 p. 2-
22 巻 (2015)
3 号 p. 155-
2 号 p. 82-
1 号 p. 2-
21 巻 (2014)
3 号 p. 112-
2 号 p. 56-
1 号 p. 2-
20 巻 (2013)
3 号 p. 155-
2 号 p. 99-
1 号 p. 2-
19 巻 (2012)
3 号 p. 159-
2 号 p. 76-
1 号 p. 2-
18 巻 (2011)
3 号 p. 164-
2 号 p. 105-
1 号 p. 2-
17 巻 (2010)
3 号 p. 157-
2 号 p. 64-
1 号 p. 2-
16 巻 (2009)
3 号 p. 187-
2 号 p. 98-
1 号 p. 2-
15 巻 (2008)
3 号 p. 216-
2 号 p. 123-
1 号 p. 2-
14 巻 (2007)
3 号 p. 187-
2 号 p. 95-
1 号 p. 2-
13 巻 (2006)
3 号 p. 212-
12 巻 (2005)
3 号 p. 357-
11 巻 (2004)
2 号 p. 123-
1 号 p. 33-
9 巻 (2002)
4 号 p. 488-
3 号 p. 275-
2 号 p. 150-
1 号 p. 75-
29 巻, 3 号
選択された号の論文の31件中1~31を表示しています
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巻頭言
The
XPSOasis
Platform
Alberto Herrera-Gomez
2023 年 29 巻 3 号 p. 144-145
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.144
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(136K)
技術報告
有機半導体材料における光電子収量分光(PYS)データベース構築
柳生 進二郎, 吉武 道子, 長田 貴弘, 安田 剛, 桑島 功, 劉 雨彬, 中島 嘉之
2023 年 29 巻 3 号 p. 146-154
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.146
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有機・無機半導体材料のイオン化ポテンシャルの情報を与える光電子収量分光(PYS)のデジタルデータベース構築を行った.検索する際のキー(メタデータ)である,(1)計測機から得られる計測メタデータ,(2)データ解析メタデータ,(3)測定試料や実験手順などを記載した試料・実験メタデータ,(4)データの利用ライセンスに関するメタデータについて整理した.低分子有機材料については,材料名を一意に特定するために行列表記の構造ファイルから線形表記に変換したSMILESなどをメタデータに含めた.これにより外部の有機物に関するデータベースと検索連携を取ることができる.
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(1379K)
談話室
The 23
rd
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS-23)の参加報告
飯田 真一, 張 薰匀
2023 年 29 巻 3 号 p. 155-158
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.155
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(2156K)
SASJ25周年記念小特集
談話室
表面分析研究会設立25(+2)周年記念講演会 開催記
鈴木 峰晴, 田沼 繁夫
2023 年 29 巻 3 号 p. 159-164
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.159
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(4050K)
祝辞
Message to the Surface Analysis Society of Japan
Cedric J. Powell
2023 年 29 巻 3 号 p. 165-166
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.165
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(203K)
研究会ことはじめ
吉原 一紘
2023 年 29 巻 3 号 p. 167
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.167
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(412K)
Congratulatory Address at the SASJ 25th Anniversary Celebration
Aleksander Jablonski
2023 年 29 巻 3 号 p. 168-169
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.168
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(194K)
祝!! SASJ創立25周年
福田 安生
2023 年 29 巻 3 号 p. 170-172
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.170
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(252K)
表面分析研究会設立 25 周年祝辞
柳内 克昭
2023 年 29 巻 3 号 p. 173-175
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.173
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(846K)
講演資料
DX 推進に向けた計測分析プラットフォームの構築
―CPS 型複合計測分析と共通データフォーマット構想―
一村 信吾
2023 年 29 巻 3 号 p. 176-177
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.176
ジャーナル
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(434K)
表面分析者はデータの信頼性に関して何ができるか:4R
鈴木 峰晴
2023 年 29 巻 3 号 p. 178-179
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.178
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(683K)
SASJ講演委員会のこれから
牧野 久雄
2023 年 29 巻 3 号 p. 180-182
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.180
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(647K)
JSAの過去・現在・将来
眞田 則明
2023 年 29 巻 3 号 p. 183-186
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.183
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(1200K)
AESおよびXPSによる非鉄材料の分析とSASJとの10年
奥村 洋史
2023 年 29 巻 3 号 p. 187
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.187
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(714K)
SASJでの経験と技術継承
山内 康生
2023 年 29 巻 3 号 p. 188
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.188
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(161K)
掲示板
2022年度実用表面分析講演会(PSA-22)報告
2023 年 29 巻 3 号 p. 189-192
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.189
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(418K)
2022年度実用表面分析講演会(PSA22)講演資料
講演資料
光電子収量分光(PYS)データベース構築
柳生 進二郎, 吉武 道子, 長田 貴弘, 安田 剛, 桑島 功, 劉 雨彬, 中島 嘉之
2023 年 29 巻 3 号 p. 193
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.193
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(351K)
計測分析データの利用側の動向について
柳内 克昭
2023 年 29 巻 3 号 p. 194
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.194
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(350K)
White electron beam technique in electron-beam based techniques
B. Da, J. W. Liu, 吉川 英樹, 田沼 繁夫
2023 年 29 巻 3 号 p. 195
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.195
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(245K)
実験室系HAXPES (Cr Kα) を用いたAlのオージェパラメーターの検討
西田 真輔, 大友 晋哉
2023 年 29 巻 3 号 p. 196
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.196
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(411K)
XPS, AES, UPS/LEIPSを用いたLi金属負極/酸化物系固体電解質界面の 化学的・電気的性質の解析
寺島 雅弘, ⽊本 孝仁, 佐々⽊ 俊介, 間宮 ⼀敏, 飯⽥ 真⼀
2023 年 29 巻 3 号 p. 197
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.197
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(436K)
汎用電子分光データ解析ソフトSDPと参照スペクトル援用解析の提案
塩沢 一成
2023 年 29 巻 3 号 p. 198
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.198
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(403K)
電子励起の二次電子スペクトルの微細構造 その 12
―直接放出過程の寄与―
橋本 哲, 櫻田 委大, 後藤 敬典, 田沼 繁夫, 永富 隆清
2023 年 29 巻 3 号 p. 199
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.199
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(459K)
再現性のよい XPS スペクトル面積解析
眞田 則明
2023 年 29 巻 3 号 p. 200
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.200
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(342K)
Ar ガスクラスターイオンによる LIB 負極上の SEI 被膜の XPS 深さ方向分析
渡邉 俊祐
2023 年 29 巻 3 号 p. 201
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.201
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(447K)
Al積層AZO薄膜のその場熱処理による低抵抗化と積層界面の化学状態分析
古賀 直弥, 牧野 久雄
2023 年 29 巻 3 号 p. 202
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.202
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(465K)
XPS 定量分析の精度に関わる幾何学的な要因の除去方法と 定量分析の模擬実験
黒河 明, 張 ルウルウ
2023 年 29 巻 3 号 p. 203
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.203
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(486K)
SEM 観察によるエアロゾル粒子の発生源別個数評価方法の検討
加藤 望亜, 土田 翔慶, 友綱 隼, 伊勢 真奈美, 黒松 聖冬, 森田 真人, 坂本 哲夫
2023 年 29 巻 3 号 p. 204
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.204
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(501K)
TEM g • b 解析による 4H-SiC 中転位欠陥の調査
森 貴仁, 比氣 朋典, 吉川 政夫
2023 年 29 巻 3 号 p. 205
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.205
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(482K)
掲示板
2022 年度実用表面分析講演会(PSA-22) Powell 賞
2023 年 29 巻 3 号 p. 206
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.206
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(163K)
編集後記
編集後記
2023 年 29 巻 3 号 p. 225
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20
DOI
https://doi.org/10.1384/jsa.29.225
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