Journal of Surface Analysis
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27 巻, 1 号
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巻頭言
解説
  • 新しいキログラム定義を支える表面分析 ― 高純度濃縮Si単結晶球体表面の XPS分析によるアプローチ ―
    張 ルウルウ
    原稿種別: 解説
    2020 年 27 巻 1 号 p. 2-14
    発行日: 2020年
    公開日: 2021/08/01
    DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.27.2
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    2019年5月20日（世界計量記念日）にキログラム定義が人工物の分銅「国際キログラム原器」から基礎物理定数の「プランク定数」へ，約130年ぶりに改定された．（国）産業技術総合研究所は，高純度濃縮28Si単結晶球体を用いてX線結晶密度法によりプランク定数を世界最高レベルの精度で測定し，キログラムの定義改定に大きく貢献した．プランク定数の精密測定にはSi単結晶球体の高精度な表面層評価が必要不可欠である．我々はX線光電子分光法を用いSi球体表面に存在する自然酸化膜と炭素汚染層の組成及び膜厚を計測評価し，プランク定数のSi球体表面層による不確かさを低減することに成功した．本稿は，新しいキログラム定義を支えるX線光電子分光法による高精度な28Si単結晶球体の表面層膜厚計測について解説する．
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論文
技術報告
  • マテリアルキュレーション®支援システムの開発
    吉武 道子, 佐藤 文孝, 河野 洋行
    2020 年 27 巻 1 号 p. 22-33
    発行日: 2020年
    公開日: 2021/08/01
    DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.27.22
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    著者は，一見別々の事象を科学法則に則って結び付け，既存のデータを駆使して物性値の予測や材料探索指針の発見を行おうという，「マテリアルキュレーション®」を提唱している．これは，機械学習的手法を用いるのに十分な実験値や計算値を得るのが困難という材料特有の問題を克服するものである．分野横断的に科学法則を利用するために，物性間の関係性をネットワーク型の知識データベースとし，物性間の関係性を探索できる，マテリアルキュレーション®支援システムのプロトタイプ開発を行った．物性間の関係性の例や関係性データベースとその探索の概念，システム構築について報告する．
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  • LEIPSおよびUPSを用いた有機EL材料のバンド構造評価
    寺島 雅弘, 宮山 卓也, 白尾 徹郎, Hin Wai Mo, 波多江 泰裕, 藤本 弘, 渡邉 勝己
    2020 年 27 巻 1 号 p. 34-44
    発行日: 2020年
    公開日: 2021/08/01
    DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.27.34
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    マルチテクニックX線光電子分光法（XPS）に搭載した低エネルギー逆光電子分光法（LEIPS; low energy inverse photoelectron spectroscopy）と紫外光電子分光法（UPS）を用いて，有機EL材料の電子親和力およびイオン化ポテンシャルの評価を行った．CuPc（Cu phthalocyanine）薄膜（10 nm）/ITO（indium tin oxide）膜/ガラス基板，C60薄膜(10 nm)/Au膜/ITO膜/ガラス基板およびα-NPD（Bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl]benzidine）薄膜（10 nm）/ITO膜/ガラス基板の3種類について，LEIPSを用いてLUMO（lowest unoccupied molecular orbital）準位（最低空準位）を，UPSを用いてHOMO（highest occupied molecular orbital）準位（最高被占準位）を，それぞれ算出し各材料表面のバンドギャップを決定した．さらに，アルゴンガスクラスターイオン銃（Ar-GCIB; argon-gas cluster ion beam）を用いる事で有機EL積層膜の深さ方向に対するLUMOおよびHOMOの評価も可能であることを示した．
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連載
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