絶対オージェスペクトルの弾性散乱ピーク近傍(エネルギー損失量：0∼100 eV)は絶対反射電子エネルギー損失分光法(REELS: reflection electron energy loss spectroscopy)スペクトルに相当する．この絶対REELSスペクトル解析により，非弾性散乱平均自由行程(IMFP: inelastic mean free path)と表面励起パラメータ(SEP: surface excitation parameter)を絶対値で同時に決定できるREELSスペクトル解析法を提案した．提案した解析法と絶対REELSスペクトルを用いて300から3000 eVの電子に対するNiのIMFPとSEPを決定した．絶対REELSスペクトルの解析により求めたIMFPはTPP-2Mの式を用いて計算したIMFPとよい一致を示した．SEPについては，Chen型のSEPの式へフィッティングして経験式を導出した．これらの結果から，本解析法が中エネルギー電子に対するIMFPと SEPを求めるのに有効であることを確認した．

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Change in such properties were characterized as tribological properties, surface chemical condition and so on for lubricative coating films of titanium nitride (TiN) that have been effected by exposure to an environment in orbit with the Russian Service Module / Space Environment Exposure Device (SM/SEED) prepared by JAXA on the International Space Station (ISS). Friction measurement with a mating pin of stainless steel showed that TiN coated stainless steel sheets after exposure test to orbit environment for a year generally decrease friction coefficient and can keep almost constant even after bakeout under a vacuum as well as at an atmospheric pressure due to some kind of modification of lubricant layer by the exposure.

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A simple model for the spatial resolution of phase-contrast images obtained by X-ray microscopy is proposed. In principle, the model is based on Fresnel s diffraction of a point phase object and applied to interpret the X-ray microscopic images of an ant and a bee taken under different experimental conditions. The source sizes of the X-rays were estimated by Monte Carlo calculation. Using the sizes of the X-ray sources, the spatial resolutions of the phase-contrast images were also estimated according to the proposed model. The results indicate that the present simple model has expressed the high spatial resolution achieved by X-ray microscopy with considerable success, shedding a closer insight into a new world of phase-contrast X-ray microscopy.

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X線光電子分光法（XPS）の化学状態分析において，データ処理時の帯電補正は重要である．表面汚染炭化水素プロジェクトでは，XPSを使用している方々に帯電補正方法に関するアンケートをお願いし，通常使用している帯電補正方法と，表面汚染炭化水素を帯電補正の基準に使った場合のC1sの値について調査し，国内41機関，43名より回答を得た．その結果，表面汚染炭化水素のC1sによる帯電補正は広く使われていることがわかったが，C1s値には284.5∼285.0 eVまで幅があり，メーカー依存のあることが明らかになった．また，解析の目的にあわせて内部標準を使うなど補正方法を使い分けている機関も多かった．本稿では，アンケート結果を紹介し，実際の分析現場での帯電補正の現状について述べる．

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最新のオージェ分析装置（AES: Auger Electron Spectrometer）は，電子銃として熱電界放射型フィールドエミッション(TFE)銃を装備したFEオージェ分析装置（FE-AES）が実用化され，数10nmの微小領域が容易に分析できるようになってきた．従来からのAESの特徴である表面層に敏感なこと，深さ方向分析が可能なことに加えて，数10nmの微小領域の分析，さらに, 高エネルギー分解能のエネルギーアナライザを用いることにより，オージェスペクトルによる化学結合状態の情報が得られるようになってきた．ここでは，最新の情報としてFE-オージェによる化学状態分析の分析例について報告する．

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光学系におけるビームのふるまいは，輝度不変則によって強い制約をうけます．この法則はビームの集中度に理論的な限界を課し，光学装置の性能を大きく左右するものです．輝度不変則は熱力学と深く関係し，またその起源は光と粒子の波動性までさかのぼることができます．

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