Journal of Surface Analysis

巻頭言

分析測定を支えるもの

黒河明

原稿種別: 巻頭言
2020 年 26 巻 3 号 p. 227
発行日: 2020年
公開日: 2022/05/07

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.26.227

ジャーナルフリー

PDF形式でダウンロード (183K)

解説

AichiSRテンダーX線XAFS・光電子分光ビームラインBL6N1の最新状況

陰地宏, 村井崇章, 柴田佳孝, 田渕雅夫, 渡辺義夫, 竹田美和

2020 年 26 巻 3 号 p. 228-244
発行日: 2020年
公開日: 2021/04/07

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.26.228

ジャーナルフリー

抄録を表示する抄録を非表示にする

あいちシンクロトロン光センターのBL6N1は1.75 – 6 keV のエネルギー範囲のX線による吸収分光及び光電子分光が可能なビームラインである．BL6N1では2018年に二結晶分光器を更新し，X線ビームのエネルギーと強度の安定性が向上した．本稿では，BL6N1のX線光学系やXAFS・光電子分光実験装置の概要と，二結晶分光器更新以降のビーム性能向上を含めたビームラインの最新状況について解説する．

抄録全体を表示

PDF形式でダウンロード (1821K)
環境電子顕微鏡（ETEM）による反応挙動その場観察

川﨑忠寛

2020 年 26 巻 3 号 p. 245-253
発行日: 2020年
公開日: 2021/04/07

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.26.245

ジャーナルフリー

抄録を表示する抄録を非表示にする

環境電子顕微鏡（Environmental Transmission Electron Microscopy; ETEM）は, 透過型電子顕微鏡（TEM）を用いた動的観察手法のひとつである．通常のTEMでは，電子ビームの残留ガス分子による散乱を抑制するため，試料は真空下に置かれることになる．これに対して，ETEMでは，ガス雰囲気や液中など材料が実際に動作する状況下における状態を直接観察することが可能である．本稿では，2つのタイプのETEMについてその原理や特徴を概説する．また，応用研究の例として，金ナノ触媒反応のガス雰囲気下その場観察，およびグラフェンを用いた液中観察の結果を示す．

抄録全体を表示

PDF形式でダウンロード (766K)

エクステンディド・アブストラクト（レビュー）

大気圧MeV-SIMSの開発と固液界面分析

瀬木利夫

2020 年 26 巻 3 号 p. 254-259
発行日: 2020年
公開日: 2021/04/07

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.26.254

ジャーナルフリー

抄録を表示する抄録を非表示にする

二次イオン質量分析法（Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS）は，高感度に元素分布のイメージングや深さ方向分析ができることから，Si中の不純物分析のように半導体分野などで多く利用されてきた．近年になり， MeV領域のエネルギーを持つ高速重イオンを一次ビームとして用いるMeV-SIMS が開発され，有機材料の分析も可能となり，固液界面分析やオペランド分析に向けて低真空あるいは大気圧下でのSIMS分析も可能となってきている．ここでは、固液界面分析に向けて、湿潤He環境下においてSi基板上の安息香酸水溶液を次第に乾燥させながら連続SIMS測定した結果を示す．

抄録全体を表示

PDF形式でダウンロード (659K)

連載

表面化学分析に関わる用語解説（TASSAのたまご）第6回

標準化活動部会

2020 年 26 巻 3 号 p. 260-268
発行日: 2020年
公開日: 2022/12/19

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.26.260

ジャーナルフリー

PDF形式でダウンロード (786K)

J-STAGEへの登録はこちら（無料）