Journal of Surface Analysis

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29 巻, 3 号

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巻頭言

The XPSOasis Platform

Alberto Herrera-Gomez

2023 年 29 巻 3 号 p. 144-145
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.144

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技術報告

有機半導体材料における光電子収量分光（PYS）データベース構築

柳生進二郎, 吉武道子, 長田貴弘, 安田剛, 桑島功, 劉雨彬, 中島嘉之

2023 年 29 巻 3 号 p. 146-154
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.146

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有機・無機半導体材料のイオン化ポテンシャルの情報を与える光電子収量分光（PYS）のデジタルデータベース構築を行った．検索する際のキー（メタデータ）である，（1）計測機から得られる計測メタデータ，（2）データ解析メタデータ，（3）測定試料や実験手順などを記載した試料・実験メタデータ，（4）データの利用ライセンスに関するメタデータについて整理した．低分子有機材料については，材料名を一意に特定するために行列表記の構造ファイルから線形表記に変換したSMILESなどをメタデータに含めた．これにより外部の有機物に関するデータベースと検索連携を取ることができる．

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談話室

The 23^rd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry（SIMS-23）の参加報告

飯田真一, 張薰匀

2023 年 29 巻 3 号 p. 155-158
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.155

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SASJ25周年記念小特集

談話室

表面分析研究会設立25(+2)周年記念講演会　開催記

鈴木峰晴, 田沼繁夫

2023 年 29 巻 3 号 p. 159-164
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.159

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祝辞

Message to the Surface Analysis Society of Japan

Cedric J. Powell

2023 年 29 巻 3 号 p. 165-166
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.165

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研究会ことはじめ

吉原一紘

2023 年 29 巻 3 号 p. 167
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.167

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Congratulatory Address at the SASJ 25th Anniversary Celebration

Aleksander Jablonski

2023 年 29 巻 3 号 p. 168-169
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.168

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祝!!　SASJ創立25周年

福田安生

2023 年 29 巻 3 号 p. 170-172
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.170

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表面分析研究会設立 25 周年祝辞

柳内克昭

2023 年 29 巻 3 号 p. 173-175
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.173

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講演資料

DX 推進に向けた計測分析プラットフォームの構築

―CPS 型複合計測分析と共通データフォーマット構想―

一村信吾

2023 年 29 巻 3 号 p. 176-177
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.176

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表面分析者はデータの信頼性に関して何ができるか：4R

鈴木峰晴

2023 年 29 巻 3 号 p. 178-179
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.178

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SASJ講演委員会のこれから

牧野久雄

2023 年 29 巻 3 号 p. 180-182
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.180

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JSAの過去・現在・将来

眞田則明

2023 年 29 巻 3 号 p. 183-186
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.183

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AESおよびXPSによる非鉄材料の分析とSASJとの10年

奥村洋史

2023 年 29 巻 3 号 p. 187
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.187

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SASJでの経験と技術継承

山内康生

2023 年 29 巻 3 号 p. 188
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.188

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掲示板

2022年度実用表面分析講演会（PSA-22）報告

2023 年 29 巻 3 号 p. 189-192
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.189

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2022年度実用表面分析講演会（PSA22）講演資料

講演資料

光電子収量分光（PYS）データベース構築

柳生進二郎, 吉武道子, 長田貴弘, 安田剛, 桑島功, 劉雨彬, 中島嘉之

2023 年 29 巻 3 号 p. 193
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.193

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計測分析データの利用側の動向について

柳内克昭

2023 年 29 巻 3 号 p. 194
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.194

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White electron beam technique in electron-beam based techniques

B. Da, J. W. Liu, 吉川英樹, 田沼繁夫

2023 年 29 巻 3 号 p. 195
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.195

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実験室系HAXPES (Cr Kα) を用いたAlのオージェパラメーターの検討

西田真輔, 大友晋哉

2023 年 29 巻 3 号 p. 196
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.196

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XPS, AES, UPS/LEIPSを用いたLi金属負極/酸化物系固体電解質界面の化学的・電気的性質の解析

寺島雅弘, ⽊本孝仁, 佐々⽊俊介, 間宮⼀敏, 飯⽥真⼀

2023 年 29 巻 3 号 p. 197
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.197

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汎用電子分光データ解析ソフトSDPと参照スペクトル援用解析の提案

塩沢一成

2023 年 29 巻 3 号 p. 198
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.198

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電子励起の二次電子スペクトルの微細構造その 12

―直接放出過程の寄与―

橋本哲, 櫻田委大, 後藤敬典, 田沼繁夫, 永富隆清

2023 年 29 巻 3 号 p. 199
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.199

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再現性のよい XPS スペクトル面積解析

眞田則明

2023 年 29 巻 3 号 p. 200
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.200

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Ar ガスクラスターイオンによる LIB 負極上の SEI 被膜の XPS 深さ方向分析

渡邉俊祐

2023 年 29 巻 3 号 p. 201
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.201

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Al積層AZO薄膜のその場熱処理による低抵抗化と積層界面の化学状態分析

古賀直弥, 牧野久雄

2023 年 29 巻 3 号 p. 202
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.202

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PDF形式でダウンロード (465K)
XPS 定量分析の精度に関わる幾何学的な要因の除去方法と定量分析の模擬実験

黒河明, 張ルウルウ

2023 年 29 巻 3 号 p. 203
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.203

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PDF形式でダウンロード (486K)
SEM 観察によるエアロゾル粒子の発生源別個数評価方法の検討

加藤望亜, 土田翔慶, 友綱隼, 伊勢真奈美, 黒松聖冬, 森田真人, 坂本哲夫

2023 年 29 巻 3 号 p. 204
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.204

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TEM g • b 解析による 4H-SiC 中転位欠陥の調査

森貴仁, 比氣朋典, 吉川政夫

2023 年 29 巻 3 号 p. 205
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.205

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掲示板

2022 年度実用表面分析講演会（PSA-22） Powell 賞

2023 年 29 巻 3 号 p. 206
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.206

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編集後記

編集後記

2023 年 29 巻 3 号 p. 225
発行日: 2023年
公開日: 2023/08/20

DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.29.225

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