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顕微鏡
Online ISSN : 2434-2386
Print ISSN : 1349-0958
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巻号一覧
58 巻 (2023)
3 号 p. 89-
2 号 p. 50-
1 号 p. 2-
57 巻 (2022)
3 号 p. 100-
2 号 p. 48-
1 号 p. 2-
56 巻 (2021)
3 号 p. 94-
2 号 p. 53-
1 号 p. 2-
55 巻 (2020)
3 号 p. 103-
2 号 p. 52-
1 号 p. 2-
54 巻 (2019)
3 号 p. 109-
2 号 p. 55-
1 号 p. 2-
53 巻 (2018)
3 号 p. 102-
2 号 p. 56-
1 号 p. 2-
52 巻 (2017)
3 号 p. 118-
2 号 p. 61-
1 号 p. 3-
51 巻 (2016)
3 号 p. 139-
2 号 p. 66-
1 号 p. 2-
50 巻 (2015)
3 号 p. 150-
2 号 p. 80-
1 号 p. 5-
49 巻 (2014)
3 号 p. 160-
2 号 p. 82-
1 号 p. 2-
48 巻 (2013)
3 号 p. 148-
2 号 p. 77-
1 号 p. 2-
47 巻 (2012)
4 号 p. 185-
3 号 p. 126-
2 号 p. 70-
1 号 p. 2-
46 巻 (2011)
4 号 p. 216-
3 号 p. 150-
2 号 p. 84-
1 号 p. 2-
45 巻 (2010)
4 号 p. 206-
3 号 p. 142-
2 号 p. 74-
1 号 p. 2-
44 巻 (2009)
4 号 p. 240-
3 号 p. 156-
2 号 p. 81-
1 号 p. 2-
43 巻 (2008)
4 号 p. 241-
3 号 p. 156-
2 号 p. 84-
1 号 p. 3-
42 巻 (2007)
3 号 p. 150-
2 号 p. 76-
1 号 p. 3-
Appendix 号 p. 1-
Supplement2 号 p. 3-
Supplement1 号 p. 1-
41 巻 (2006)
3 号 p. 144-
2 号 p. 72-
1 号 p. 2-
Supplement1 号 p. 2-
40 巻 (2005)
3 号 p. 140-
2 号 p. 74-
1 号 p. 2-
Supplement2 号 p. 2-
Supplement1 号 p. 1-
39 巻 (2004)
3 号 p. 144-
2 号 p. 79-
1 号 p. 2-
supplement1 号 p. 1-
前身誌
電子顕微鏡
41 巻, 1 号
選択された号の論文の16件中1~16を表示しています
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収差補正,次への道を見つけよう
田中 信夫
2006 年 41 巻 1 号 p. 2
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.2
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(1451K)
球面収差補正TEM法の材料研究への応用
山崎 順, 田中 信夫
2006 年 41 巻 1 号 p. 3-6
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.3
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(8610K)
Sub-Å STEMによる局所構造解析
阿部 英司, Stephen J. Pennycook
2006 年 41 巻 1 号 p. 7-10
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.7
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(5853K)
収差補正200kV TEM・STEM
沢田 英敬, 奥西 栄治, 富田 健, 山本 剛久
2006 年 41 巻 1 号 p. 11-15
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.11
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(5981K)
走査透過電子顕微鏡の球面収差補正とその応用
中村 邦康, 今野 充, 矢口 紀恵, 谷口 佳史, 田中 弘之, 砂子沢 成人
2006 年 41 巻 1 号 p. 16-20
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.16
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(6431K)
次世代の電子光学系を有する収差補正電子顕微鏡の開発
Bert Freitag, Rolf Erni, 伊野家 浩司, Mike Stekelenburg, Dominique Hubert
2006 年 41 巻 1 号 p. 21-25
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.21
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(11476K)
電子エネルギー損失スペクトル微細構造解析の軽元素分析への応用
武藤 俊介
2006 年 41 巻 1 号 p. 26-31
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.26
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(3870K)
放射光X線顕微鏡の現状と今後の展望
篭島 靖, 小山 貴久, 高野 秀和
2006 年 41 巻 1 号 p. 32-38
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.32
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(7200K)
マイコプラズマの滑走運動
ここまでわかった未知の構造と生体運動メカニズム
宮田 真人
2006 年 41 巻 1 号 p. 39-44
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.39
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(9858K)
FIBで作製した半導体TEM試料のダメージ
加藤 直子
2006 年 41 巻 1 号 p. 45-48
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.45
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(1670K)
無包埋切片法による細胞微細構造の電顕観察
近藤 尚武
2006 年 41 巻 1 号 p. 49-53
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.49
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(2224K)
影像歪法による試料中の電場・磁場の観察
佐々木 勝寛, 黒田 光太郎, 坂 公恭
2006 年 41 巻 1 号 p. 54-56
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.54
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(3098K)
電子顕微鏡を用いた細胞内取込み現象の可視化
藤田 秋一
2006 年 41 巻 1 号 p. 57-60
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.57
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(1566K)
電子線ホログラフィー法の金ナノヘテロ触媒への応用
市川 聡, 秋田 知樹, 田中 孝治, 香山 正憲
2006 年 41 巻 1 号 p. 61-63
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.61
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(1842K)
電子顕微鏡によるアクアポーリンの高分解能構造解析
刑部 伸彦, 光岡 薫
2006 年 41 巻 1 号 p. 64-67
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.64
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(7892K)
第4回アジア太平洋解剖学会議報告
河田 光博
2006 年 41 巻 1 号 p. 68
発行日: 2006/03/31
公開日: 2010/04/15
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.68
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