精密工学会学術講演会講演論文集
2005年度精密工学会春季大会
選択された号の論文の683件中1~50を表示しています
切断加工(1)
切断加工(2)
先進砥粒加工技術(1)
先進砥粒加工技術(2)
三次元造形(1)
三次元造形(2)
三次元造形(3)
表面ナノ構造・ナノ計測(1)
表面ナノ構造・ナノ計測(2)
MEMS商業化技術(1)
  • 植田 寛康, 上野 洋, 糸魚川 貢一, 服部 正
    セッションID: A73
    発行日: 2005/03/10
    公開日: 2005/10/06
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    微細加工技術を用い、電極間距離40um、電極面積12mm2の静電容量型小型傾斜センサを開発した。本センサは、傾斜角に応じたシリコーンオイルの移動により生じる静電容量の差を検出するが、電極間ギャップが狭いためその表面張力が問題であった。そこで、微小流路内へのオイル注入構造とオイル水平面保持構造に工夫を凝らすことにより表面張力の問題を解決し、小型化を達成した。
  • プローブ材料のコンタクト耐久性への影響
    片岡 憲一, 伊藤 寿浩, 須賀 唯知
    セッションID: A74
    発行日: 2005/03/10
    公開日: 2005/10/06
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    次世代の高密度·多ピン·高速デバイスの試験時のプロービングに不可欠な低接触力の電気的コンタクト手法として、我々は絶縁破壊の一種であるフリッティングに着目して研究を進めている。フリッティングコンタクトでは、従来の機械的コンタクトに比べてデバイス上電極及びプローブへのダメージが小さいことが利点の一つであるが、多数回のコンタクトでは、プローブへ電極材料が付着することが問題になる。本研究では、多数回のコンタクトにおけるフリッティングの持続性および電極材料の付着を、異なる材料のプローブについて評価し、コンタクトプローブに適した材料について調べた結果を報告する。
  • 東海林 勇, 片岡 憲一, 伊藤 寿浩, 須賀 唯知
    セッションID: A75
    発行日: 2005/03/10
    公開日: 2005/10/06
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    LSIデバイスの高密度化に伴う電極の小型化、狭ピッチ化によって、デバイス試験時のプロービングが困難になってきている。従来のプロービングでは、Alの電極を機械的な力で破壊する方法で電気的コンタクトを確保してきたが、プロービングに必要な100 mN程度の大きな力は、デバイスやプローブにダメージを与え、プローブのマイクロ化を制限するなどの問題を起こしている。本研究では、デバイス電極上に除去可能な導電性の材料で作製したバンプを用いてコンタクトする新しい方法を提案する。本報では、既存の導電性樹脂材料を用いてコンタクト性の基本的な特性測定を行った結果を報告する。
  • 銘苅 春隆, 久住 真治, 佐藤 憲昭, 清水 正巳, 山下 満, 嶋田 修, 服部 正
    セッションID: A76
    発行日: 2005/03/10
    公開日: 2005/10/06
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    2.5次元で展開されてきたLIGAプロセスに、3D X線リソグラフィー、ネジ抜き離型機構付きのウォーム射出成形、平滑鍍金と等方性化学エッチングによるメタライズの技術を導入することで、スパイラル型マイクロコイルの試作に成功した。コイルの直径は0.5mm、長さが1mmであり、コイルラインの線幅は10um、ピッチは20umであった。コイルの特性評価も行い、1GHz時のインダクタンスは91nHであった。
MEMS商業化技術(2)
表面機能の形成と評価(1)
feedback
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