コピー機やプリンタなどに用いられる電子写真の2成分現像装置には，多極の磁石ローラが使用されている．この磁石ローラは，高磁場を印加させた押出し成型により製造している．目的とする仕様に合った磁気特性をもったマグネットローラを得るには，金型形状やコイルの電流値など多くのパラメータの調整が必要となる．マグネットローラの金型設計を効率的に行うため，磁化過程を計算させる電磁界計算ツールを開発した．さらに遺伝的アルゴリズムを適用し，多数のパラメータの最適化を自動的に決定した．本手法を適用することで，従来では得られなかった高い磁気特性をもつマグネットローラを短期間で開発することができた．

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発色剤として硫化カルシウム水溶液を用いた，銀ナノ粒子薄膜の新規な方法について報告する．著者らは，硫化カルシウム水溶液に銀ナノ粒子薄膜を浸漬すると，シルバーから黄色，濃い黄色，紫色，青色，緑色へと変化することを発見している．このとき色変化のパラメータとなるのが，硫化カルシウム水溶液の温度と銀ナノ粒子薄膜の浸漬時間であり，これらをコントロールすることにより様々な色を発現できることがわかった．また，走査型電子顕微鏡観察によって，銀ナノ粒子薄膜の発色は，銀ナノ粒子の粒径変化に起因することがわかった．この新規発色法は簡便で実践的であることから，様々な分野での応用が考えられる．例えば，硫化カルシウム水溶液で銀ナノ粒子薄膜に文字や画像を書込むことによって，画像形成材料としての応用が期待できる．

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特許出願は，企業等における研究開発の結果としてなされ，原則として公開されるものであるから，こうした特許情報を分析することにより，各技術分野におけるプレイヤーとその活動状況，得意分野などを知ることができる．研究開発段階や知財戦略などへの特許情報の活用を図るため，特許庁では例年，特許出願技術動向調査と称して特許出願を基にした技術動向の調査を実施しており，平成22年度のテーマとして「電子写真装置の定着技術」を選択した．本稿では特許出願技術動向調査の概要及びその調査結果を紹介する．

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プリンタに求められる特性として，高速性，高画質といった基本的な性能に加えて，近年は省電力，リサイクルの推進，排気ガスの低減といった環境への配慮などが注目されており，各社様々な技術開発が進められている．その際に，材料に関する組成や形態，物性などをきちんと把握すること，印刷の際に起きる現象を分析的に捉えることが，技術的な改善の近道となる．
本稿では，大きくインクジェットプリンタ関連，電子写真関連の2分野において，材料から印刷物に渡る分析対象について，組成分析，表面分析，形態観察，異物分析，物性分析といった幅広い内容について，その一例を紹介する．

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先鋭化した探針を試料表面に数nm以下に近づけて走査する走査型プローブ顕微鏡 (SPM) は，表面形状や様々な物性をナノスケールで観察できる新しい顕微鏡であり，多くの応用観察法を生み出した．特に原子間力顕微鏡 (AFM) は，試料―探針間に作用する力が一定になるように試料表面を走査するため，絶縁材料でも前処理を行うことなく観察することが出来る．また，液体中，大気中から真空中で観察できるため，様々な研究・開発分野で広く使用されている．SPMで得られる表面形状像の高さ方向は，高分解能で正確な情報を持っているため，画像取り込み後にプロファイル解析，表面粗さ解析や三次元表示が可能である．また，試料の位相像，表面電位像，磁気像，接触電流像などの物性情報を表面形状像と同時に得ることも可能で，新しい知見を得ることができる．本稿ではSPMの原理とその観察例について解説する．

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エリプソメトリーは，光の基本的な性質である偏光を利用した光学計測法であり，極薄膜や表面/界面に高い感度を有することから，半導体を始めとする様々な産業分野・学術分野において，ナノメーター精度の精密膜厚計として広く定着している．エリプソメトリーから発展した分光エリプソメトリーは，スペクトル測定から得られる情報を基に膜材料の光物性が議論できるという特長を持ち，近年のコンピューターの急速な発達，マルチチャンネル分光器の高性能化などの技術革新に支えられて，薄膜評価のアプリケーション領域を飛躍的に拡大させた．本稿では，分光エリプソメトリーの基礎・測定原理・測定法・解析法について概説し，実用的な薄膜試料の光物性評価への応用例を紹介する．

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質量分析装置には，採用されている原理の違いからいくつか種類が存在するが，本稿ではその中から材料評価を目的とした場合に適用範囲が広く様々な種類のサンプルに対応できると考えられるマトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 (MALDI-TOF-MS) を特に取りあげ，その原理から応用例までを概説する．固体でも測定できることから材料サンプルで多い不溶性物質にも対応可能な手法であり，特に工業部品として使用されている材料を部品から直接測定し評価することも可能であることから，研究開発や故障解析の観点でその有用性は非常に高いと考えられる．また，MALDI-Imagingと呼ばれる2次元サンプル内で分子量の局在を可視化するための技術を材料評価に応用した例も併せて紹介する．

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ToF-SIMS法はポリマーなどの有機分子表面の評価法として広く活用されてきた．近年においては，ToF-SIMS法はクラスタービームの活用により大幅な検出感度の向上や低損傷な深さ方向分析の実現など，多岐に渡る技術革新がある．本稿ではToF-SIMS法におけるハードウェアーや分析技術の近年におけるめざましい進歩を紹介する．

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XPSは表面分析の中の1手法である．固体表面に軟X線を照射したときに放出される光電子のエネルギーを測定することによって，表面から数nm程度の深さの領域の構成元素，およびその組成を分析する．一番の長所はケミカルシフトと呼ばれる光電子の結合エネルギーのシフトから，結合状態を解析することである．測定装置は，X線源，電子レンズ，エネルギーアナライザー，検出器から成り立ち，測定には超高真空が要求される．本稿では，XPSの原理，特長について解説するとともに，その活用例について紹介する．

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示差走査熱量計 (DSC;Differential Scanning Calorimetry) は物質の融解，ガラス転移，結晶化などの相転移のほか，熱履歴の検討，熱硬化，熱変性，比熱，純度などの情報を検知できるため，高分子，金属，セラミック，医薬品，食品など様々な分野で活用されている．中でも近年ではブレンドポリマーやフィラー含有ポリマー，多層フィルムなどの機能性高分子材料が工業材料として我々の身の周りで多用されており，新素材の開発や製造工程の最適化の用途でDSCによる熱物性の情報は重要な役割を果たす．本報でははじめにDSCの装置構成や測定原理，得られる情報について説明したあと，ポリエチレンテレフタレートシートやトナーへの応用事例を紹介する．

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