巻号一覧
後続誌
42 巻, 500 号
選択された号の論文の13件中1～13を表示しています
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土井 康弘1976 年 42 巻 500 号 p. 732
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
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出沢 正徳1976 年 42 巻 500 号 p. 733-739
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
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白井 良明1976 年 42 巻 500 号 p. 740-745
発行日: 1976/08/05
公開日: 2010/02/15
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辻 三郎1976 年 42 巻 500 号 p. 746-751
発行日: 1976/08/05
公開日: 2010/02/16
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森下 巌1976 年 42 巻 500 号 p. 752-758
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
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井上 久仁子, 本多 庸悟1976 年 42 巻 500 号 p. 759-765
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
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土井 康弘, 安田 秀一1976 年 42 巻 500 号 p. 766-771
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
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佐田 登志夫, 松島 克守1976 年 42 巻 500 号 p. 772-778
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
ジャーナル フリー機械の状態診断は,機械設備の安全操業および保守の合理化の面から機械の状態,その機能状態を常に正確に診断する設備診断,故障診断として研究が行われるようになったが,現在の段階ではまだ体系化されていない.状態診断とはパターン認識の一分野と考えられるが,機械特有の問題点も多いため,今後前処理技術としての信号処理技術,特徴抽出の手法および決定機構についてこれまで他の分野で開発されてきた技術をふまえ,状態診断技術として研究を進める必要がある.抄録全体を表示PDF形式でダウンロード (1352K) -
澤岡 昭, 斎藤 進六, 荒木 正任1976 年 42 巻 500 号 p. 779-783
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
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切れ味の定量的表現中島 利勝1976 年 42 巻 500 号 p. 784-789
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
ジャーナル フリーGrindactivity of a wheel should be evaluated on a scale of the grinding outputs such as efficiency, economy, accuracy, quality and so on. From this point of view, the activity of a grinding wheel is analyzed, and grindactivity coefficient is defined to quantify the activity of a grinding wheel and the adaptability of a grinding wheel to various kinds of work materials. Effects of grinding conditions upon the grindactivity coefficient are discussed to point it out that the activity of a grinding wheel is not inherent in the wheel but dependent on operating conditions. With the grindactivity coefficient the activities of different grades of wheels are compared.抄録全体を表示PDF形式でダウンロード (1176K) -
研摩材を使用しない場合(第1報)フィン ヴァン・ニャン, 戸倉 和, 吉川 昌範, 浅枝 敏夫1976 年 42 巻 500 号 p. 790-796
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
ジャーナル フリー以上の実験結果から,Si単結晶の電解パフ仕上について次のことがわかった.
(1)WA#1500砥粒でラップ仕上したSi単結晶は一工程の電解バフ仕上によって,加工層のない面は得られたが,鏡面は得られなかった.
(2)電流密度によって仕上面状態は2種類に分類される.一つは電流密度110mA/cm2以下の場合で,全面にわたってエッチピットが見られる面であり,このエッチピットは仕上時間の増加とともに大きくなる.他の一つは電流密度150mA/cm2以上の場合で,全面にわたってごく小さいおうとつが無数に見られる面であり,これは仕上時間の増加によってほとんど変化しない.
(3)WA#1500砥粒でラップ仕上したSi単結晶を,いったん電流密度150mA/cm2で5min間仕上げて全面にわたってこぐ小さいおうとつが無数にみられる面にし,その面を限界電流密度で5min間仕上げるとその面は鏡面になった.しかし,材料の不均質によるものと考えられる年輪状の縞模様が見られた.抄録全体を表示PDF形式でダウンロード (2482K) -
水本 洋, 井川 直哉1976 年 42 巻 500 号 p. 797-799
発行日: 1976/08/05
公開日: 2009/06/30
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米本 完二1976 年 42 巻 500 号 p. 800-808
発行日: 1976/08/05
公開日: 2010/02/16
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