原子力施設の最終段階での，廃止措置および廃棄物の処理・処分は，原子力利用において必須の事項であるにも関わらず，特に国内では未完の分野でもある。これを乗り越えるための技術的な課題は何であろうか。あるいは，技術以外の側面であろうか。この疑問についての議論が重要であるため，バックエンド部会では，パネルディスカッションを実施し，いくつかの側面での議論を行った。その成果に基づき，現状の課題と解決に向けて整理を行った結果について述べる。

　国立研究開発法人日本原子力研究開発機構では，使用の目的を終了した原子力施設等の廃止措置および研究開発や廃止措置から発生した放射性廃棄物の処理・処分を円滑にかつ合理的に進めるため，それらに必要な，あるいは効果的な技術開発を進めてきた。これまでの技術開発について総括するとともに，バックエンド対策が本格化することを見据えた今後のバックエンド関連技術開発の方向性について述べる。

　廃止措置は原子力施設のライフサイクルにおける最後の段階であり，そのエンドステートを達成するために必要な技術について，特に，廃止措置によって発生する解体物・廃棄物の管理およびプロジェクトマネジメント・推進の2つの分野における開発の方向性を検討する。SDGsや循環型社会の枠組みの視点から見た解体物管理のあり方や，プロジェクトを推進するための戦略的なステークホルダー関与手法の構築など，ハード面に加えてソフトな技術の開発の必要性が考えられた。

　原子力施設特に軽水炉の廃止措置については，既存技術の組み合わせで対応できると考えられているが，コストダウンと工期短縮を達成するために，DX技術を活用することが必要と考えられる。また，2050年カーボンニュートラル達成のためには，廃止措置もCO₂の排出を抑制することを考慮する必要がある。廃止措置におけるDX技術の活用，CO₂の排出抑制技術の方向性について，実務担当者の立場から述べる。

　宇宙線に起因する中性子やミューオンが集積回路に引き起こすソフトエラーが信頼性低下要因として注目を浴びている。近年の集積デバイスでは中性子がソフトエラーの主要因を占めると言われてきており，中性子を対象とした多くの研究開発が行われてきた。一方で，トランジスタの微細化によりビット反転に必要な臨界電荷量が小さくなること，地上に届く粒子数は中性子よりもミューオンのほうが多いことなどから，ミューオン起因ソフトエラーへの懸念が高まっていた。

　本記事では，J-PARC MUSEで実施したSRAMに対する正負ミューオン照射実験の主要な結果を報告する。これまで正ミューオン照射実験結果の報告は数例あったが，負ミューオン照射試験の報告はなく，世界に先駆けて実施した照射実験である。実験結果より，ミューオンによってソフトエラーが発生すること，負ミューオンは原子核に捕獲される物理過程により正ミューオンよりソフトエラーへの影響が大きいことを明らかにした。2019年度より科研費基盤(S)で実施している「ミューオン起因ソフトエラー評価基盤技術：実測とシミュレーションに基づく将来予測」の研究課題を紹介し，今後の研究の展開を議論する。

　電子機器の信頼性問題として，地上に降り注ぐ二次宇宙線によって生じる電子機器の一時的な誤動作(ソフトエラー)がある。高い信頼性が求められる電子機器の数は社会の進歩とともに増えており，これらすべての機器のソフトエラー発生率(SER: Soft Error Rate)を実測的な方法で評価することは難しい。また機器の製造前の段階でSERを評価することも求められており，シミュレーションによる評価の重要性が高まっている。本稿では，ソフトエラーシミュレーション技術の研究開発の成果や，ソフトエラー発生の物理過程の詳細解析結果について解説する。

　ダイバーシティ推進と働き方改革をテーマとする，全9回にわたる産・官・学のリレー連載の第4回である。今回は，東芝グループのダイバーシティ＆インクルージョンの方針と施策の一部を紹介する。また，施策が原子力に携わる従業員の職場でどのように活用され，浸透しているか，職種を代表するメンバーが集まって意見交換したので併せて紹介する。