日本航空宇宙学会誌
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67 巻, 10 号
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解説
  • 「構造強度に関する講演会」における複合材料に関する研究動向の詳細分析
    石川 隆司
    2019 年 67 巻 10 号 p. 329-334
    発行日: 2019/10/05
    公開日: 2019/10/05
    DOIhttps://doi.org/10.14822/kjsass.67.10_329
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    日本航空宇宙学会等が主催している「構造強度に関する講演会」が設立60周年の節目を迎えたのを契機に，その研究発表のうちの複合材料に関する発表を抽出し，詳細な研究動向の分析を実施した結果について報告する．具体的には，各発表の研究対象，研究手段，研究結果についてキーワードを抽出し，それを3年ごとの期間で集計して，それらの研究動向の変化について考察した．また，研究発表数の推移，基礎・応用の別，解析・実験・解析および実験の数の推移についても調査した．また，研究実施機関の分布についても調査した．これらの分析から，今後の研究の実施方針策定のための貴重な示唆を得て，次世代を担う若手研究者への研究方針への提言を行った．

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  • 航空機のイノベーションを支える標準化活動～SAE International Aerospace Japan Symposiumを開催して
    中村 裕子, 鈴木 真二
    2019 年 67 巻 10 号 p. 335-341
    発行日: 2019/10/05
    公開日: 2019/10/05
    DOIhttps://doi.org/10.14822/kjsass.67.10_335
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    航空機の高度自動化やさらなる電動化（MEA : More Electric Aircraft）・電気推進，3Dプリンターとも呼ばれる付加製造技術（AM : Additive Manufacturing）などの製造技術革新，製造過程等の管理に対してのブロックチェーン技術の応用など，航空機とその製造に対して様々な技術革新が研究機関や企業等で検討されている．そうしたイノベーションの発展や航空機への実装において，民間団体による標準化活動が重要な役割を担っている．国際航空宇宙展2018 東京（JA2018）会期中に開催したSAE International Aerospace Japan Symposiumで得られた知見をもとに，世界的民間標準規格団体であるSAE Internationalとその標準化活動の概要を，MEAや付加製造（AM）技術分野の事例とともにまとめる．

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特集　SIP革新的構造材料
特集　SIP革新的構造材料　第1回
  • 端面衝撃損傷を有するCFRP構造の破壊挙動及び強度評価手法
    岡 功介, 柏木 聖紘, 三浦 一浩, 佐藤 幸宏, 阿部 俊夫, 高木 清嘉
    2019 年 67 巻 10 号 p. 344-349
    発行日: 2019/10/05
    公開日: 2019/10/05
    DOIhttps://doi.org/10.14822/kjsass.67.10_344
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    航空機の複合材構造では製造中・運用中に発生することが想定される損傷を考慮した損傷許容設計が適用される．特に衝撃荷重による損傷は複合材構造の残留強度を大きく低下させるため，面外方向の衝撃後圧縮（CAI）強度に関する研究がこれまでに多く実施されてきた．一方でストリンガ等の端面においても衝撃損傷が生じる可能性はあり，端面衝撃は面外方向の衝撃に比べ比較的小さな衝撃エネルギーで端面衝撃後圧縮（CAEI）強度が大きく低下するため，ストリンガ等の軸力部材にとってクリティカルな損傷ケースとなりうる．本稿では端面衝撃による損傷の詳細観察と損傷進展解析を実施し，端面衝撃による層内のき裂状損傷がCAEI強度に大きく寄与することを示した．また端面衝撃によるき裂状損傷を板厚方向に貫通するシャープノッチとして扱う簡易解析手法を提案し，CAEI強度を許容可能な精度で安全側にかつ迅速に予測できる目途を得た．

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特集　MCS並列計算システムの開発と応用　第4回
  • 独自機能（1）：MCSにおける影響パラメタの検出
    元田 敏和
    2019 年 67 巻 10 号 p. 350-356
    発行日: 2019/10/05
    公開日: 2019/10/05
    DOIhttps://doi.org/10.14822/kjsass.67.10_350
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    モンテカルロ・シミュレーション（MCS）は飛行前のシステム評価手段として優れた性質をもつため，計算機能力の向上に伴って国内外で広く利用されるようになってきている．通常，MCS結果には要求を満足できないケース（失敗ケース）が発生する．MCSでは多数の不確定パラメタを同時に，かつ，その大きさをランダムに入力しているため，失敗ケースの原因となる入力パラメタを特定することは必ずしも容易ではない．しかし原因となるパラメタが特定できなければ，システムの改善検討のための糸口が掴めない．この問題に対処しMCSが開発現場において設計検討に資するツールとなることを意図し，失敗ケースの主因となる入力パラメタ（影響パラメタ）を検出する技術を開発した．本検出法は「MCS並列計算システム」において，独自機能の1つとして組み込んでいる．本稿ではMCSにおいて影響パラメタを検出する際の問題点，必要性，検出アルゴリズム，ユーザ・インターフェースについて解説する．

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連載　空と宇宙に学ぶ／学生の挑戦
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