2002年度に商品リリースしたNASP―マルチ500のプラットフォームをベースにマルチ530/NASP―FXへとプラットフォームを進化させ商品をリリースした。
NASP―マルチ530においては,欠陥検出性能の向上として,欠陥特徴と銘柄によって変化する地合成分をデジタル処理により分離するという,オムロン独自のアルゴリズムを開発した。
さらに,NASP―FXという商品においては,リアルタイム処理性の高い欠陥処理部・録画処理部とデータベース/HMIを中心としたデータ処理部の統合を実現し,ダウンサイジングを行った。RTOS(リアルタイムOS)と高性能パソコンにより実現されている。
また,カッターソータシステムを当社のPLC(プログラマブル・コントローラ)によるリニューアルを行いNASPシリーズ+カッターソータシステムをリリースした。
今後の商品開発としては,当社センシングのコンセプトである「見る」=検出/「観る」=分析/「診る」=診断を基本に検出性能は勿論のこと,分析・診断の領域に検査システムを進化させる。その第1STEPが,ニューラルネットワークを利用した欠陥種別判別機能であり,NASPシステムにその機能を統合することにより,生産性向上に役立つ商品の実現を行いたいと考える。
今後もコンセプトをベースに顧客価値を追及した商品を開発,販売していく所存である。
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