映像情報メディア学会技術報告

Online ISSN : 2424-1970
Print ISSN : 1342-6893
ISSN-L : 1342-6893

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23.23

選択された号の論文の49件中1～49を表示しています

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表紙

原稿種別: 表紙
p. Cover1-
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_Cover1

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目次

原稿種別: 目次
p. Toc1-
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_Toc1

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Human visual system, Appearance models, Reproduction models, Measurement(Color Imaging conference参加報告)

熊田周一

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_1

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6^<th> Color Imaging Conference(1998)のVisual system, Appearance models, Reproduction Models, Measurement関連全般の発表について概要を報告する。この分野では、全部で15件の発表があった。

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Multiscale Model of Adaptation, Spatial Vision and Color Appearance(Human Visual System)(Conference Report on Color Imaging conference)

Sumanta N. Pattanaik, James A. Ferwerda, Donald P. Greenberg, Mark D. ...

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_2_1

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Developing and Testing a Color Space(IPT)with Improved Hue Uniformity(Human Visual System)(Conference Report on Color Imaging conference)

Fritz Ebner, Mark D. Fairchild

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_2_2

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CIE Work in Color Imaging(Appearance Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Alan R. Robertson, Janos Schanada, Todd Newman

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_2_3

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A Comparison of CIELAB and CIECAM97s(Appearance Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Nathan Moroner

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_2_4

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Influence of Background Characteristics on Adapted White Points of CRTs(Appearance Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Peyma Oskoui, Elizabeth Pirrotta

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_3_1

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Visibility of Thin Lines on Coloured Backgrounds(Appearance Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Victor R. Klassen, Karen M. Braun, Robert R. Buckley, Kalpana Janamanc ...

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_3_2

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Focal Paper-Prime Colors and Color Imaging(Reproduction Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

M.H. Brill, G.D. Finlayson, P.M. Hubel, W.A. Thornton

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_3_3

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Experiments in Sensor Sharpening for Color Constancy(Reproduction Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Kobus Barnard, Brian Funt

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_4_1

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White-Point Preservation Enforces Positivity(Reproduction Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Graham D. Finlayson, Mark S. Drew

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_4_2

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Verification of Gamut Mapping Algorithms in CIECAM97s Using Various Printed Media(Reproduction Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Jan Morovic, Ronnier M. Luo

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_4_3

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Gamut mapping : Evaluation of Chroma Clipping Techniques for Three Destination Gamuts(Reproduction Models)(Conference Report on Color Imaging conference)

Ethan D. Montag, Mark D. Fairchild

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_4_4

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NIST Reference Spectroradiometer for Color Display Calibrations(Mesurements)(Conference Report on Color Imaging conference)

Steven W. Brown, Yoshi Ohno

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_5_1

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Four-Color Matrix Method for Correction of Tristimulus Colorimeters-Part2(Mesurements)(Conference Report on Color Imaging conference)

Steven W. Brown, Yoshi Ohno

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_5_2

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Correcting Color-Measurement Error Caused by Stray Light in Image Scanners(Mesurements)(Conference Report on Color Imaging conference)

Peter A. Jansson, Robert P. Breault

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_5_3

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Device Independent Color Mesurement : Transforming Gretag Mesurement Data into Simulated X-Rite Data(Mesurements)(Conference Report on Color Imaging conference)

David L. Spooner

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-112
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_5_4

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Input, Output, Encoding(Color Imaging Conference報告会)

松代信人

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-113
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_7

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本稿では、1998 6th Color Imaging Conferenceにおける、Input, Output, Encodingの3つのセッションの報告を行う。

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Poster Session, IX:Processing, X:Color Management(第6回IS&T/SID Color Imaging Conference報告)

加藤直哉

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-114
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_13

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IS&TとSIDの共催による第6回Color Imaging Conference:Color Science, System, and Applicationが1998年11月17日〜20日にかけてアメリカ・アリゾナ洲Scottsdaleにて開催された。初日の17日はチュートリアルが行われ、テクニカルセッションは18日〜20日に行われた。全体としては、これまで主流であった入力・表示・出力各々の色彩画像機器の特性評価(Device Characterization)の発表が少なくなり、その分それらの画像機器をシステムとして接続する際の課題、例えば、Color Appearance ModelやGamut Mapping等の発表が増えた印象を受けた。表示機器の中でこれまでCRTが主であったのが、LCDの特性評価手法の発表が出始めてきたところが目立った程度であった。また新たな流れとしては、1)分光分布の復元のためのMulti-spectral解析、2)CGにおいて現実世界を復元するための色の忠実な再現、等が挙げられる。

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Keynote, Driver and Interconnect Technologies, CRTs(『Display Works99 Manufacturing Technology Conference』報告)

鈴木昭弘

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-115
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_17

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『Display Works99 Manufacturing Technology Conference』が米国San Jose市にて2月3日〜4日に開催された。本稿ではこのうち『Keynote』, 『Driver and Interconnect Technologies』, 『CRTs』の3セッションの内容を報告する。『Keynote』セッションでは液晶ディスプレイの投資リスクを回避するための戦略、およびFED(Field Emission Display)の今後の見通しについて述べられた。『Driver and Interconnect Technologies』セッションでは、インクジェット印刷法の実装への応用、64μmピッチでのTFT液晶COG(Chip On Glass)実装、低温poly-Siデータドライバについて発表された。『CRTs』セッションでは、アライメント・電子銃グリッドギャップ等の自動検査方法を中心として発表された。

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Session 4, 7, 8, 10(Display Manufacturing Technology Conference報告)

北川克一

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_23

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Display Works 99の中で開催されたDisplay Manufacturing Technology Conference(1999年2月3-4日、米国San Jose市)のうち、下記の4つのセッションの概要を報告する。セッション4:基板セッション7:フラットパネルディスプレイのインパクトセッション8:生産収率セッション10:部材

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4.1 招待講演ガラス:ディスプレイ開発の重要部材(2.Session 4 ガラス基板(Substrates))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

F.P. Fehlner

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_24_1

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4.2 PDPコストモデルへのガラス基板の影響(2.Session 4 ガラス基板(Substrates))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

M. Rouberol

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_24_2

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4.3 薄板ガラスのレーザー切断(2.Session 4 ガラス基板(Substrates))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

C. Hermanns

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_24_3

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4.4 最新の基板レーザー切断(2.Session 4 ガラス基板(Substrates))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

B. Hoekstra

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_25_1

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4.5 TFT-LCDガラス基板の機械的強度(2.Session 4 ガラス基板(Substrates))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

S.T. Gulati

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_25_2

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7.1 世界のFPD業界の経営戦略と政府方針(3.Session 7 FPDのインパクト(Impact of Flat Panel Displays))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

J. Hart

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_25_3

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7.2 FPDモニターの隠れたコスト節減(3.Session 7 FPDのインパクト(Impact of Flat Panel Displays))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

J. Miseli

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_25_4

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7.3 大型高解像度ELディスプレイ(3.Session 7 FPDのインパクト(Impact of Flat Panel Displays))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

T. Hatton

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_26_1

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7.4 ディスプレイ仕様の機能ベース表現(3.Session 7 FPDのインパクト(Impact of Flat Panel Displays))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

K. Sola

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_26_2

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8.1 ハブでのLCD修理 : 戦略的メリット(4.Session 8 生産収率(Manufacturing Yield))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

D. Wilson

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_26_3

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8.2 部分因子実験計画法と統計的品質管理(SPC) : 小型CRTの収率向上(4.Session 8 生産収率(Manufacturing Yield))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

C Hollingsworth

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_26_4

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8.3 空間フィルタ技術を用いた新しい基板異物検査装置(4.Session 8 生産収率(Manufacturing Yield))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

K. Kitagawa

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_26_5

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10.1 コレステリック偏光膜のモデル化(5.Session 10 材料(Materials))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

L. Commander

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_26_6

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10.2 スペーサー散布技術(5.Session 10 材料(Materials))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

R. Crowson

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_27_1

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10.3 招待講演インジェットを用いたカラーFPDの製造(5.Session 10 材料(Materials))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

M. Grove

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_27_2

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10.4 ディスプレイ用の高機能微粒子の製造(5.Session 10 材料(Materials))(Display Manufacturing Technology Conference報告)

J. Caruso

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-116
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_27_3

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薄膜技術、フォトリソグラフィ、環境配慮製造技術(1999 Display Manufacturing Technology Conference会議報告)

池田光志

原稿種別: 本文
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_29

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1999年Display Manufacturing Technology Conference国際会議の講演の中から薄膜材料・成膜技術、フォトリソグラフィ、レジストコート、環境影響を考慮した製造技術につきまとめて報告する.講演はa-Si, p-SiTFT-LCD、PDP、太陽電池、実装に関するスパッタ、CVD、レーザアニール、エッチング、レジストコート、露光に関する技術と環境影響評価、新規半導体ガス容器に関する。件数は薄膜技術が6件、レジスト技術が4件、環境関連技術が3件である。

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2.1 CRT and LCD Monitor and Process Materials Evaluated for Environmental Improvement(2.ENVIRONMENTALLY CONSCIOUS MANUFACTURING)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

M.L Socolof, C. Mizuki, D. Singh

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_30_1

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2.2 Safe and Effective Alternatives to High Pressure Toxic Gases in Semiconductor and Flat Panel Display Processing(2.ENVIRONMENTALLY CONSCIOUS MANUFACTURING)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

R. DuBois, J. Dietz, M. Donatucci, LWang, R. Frye

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_30_2

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6.1 INVITED ADDRESS : PECVD of Films for Low Temperature Poly-Si TFT LCD Applications(6.THIN FILM MATERIALS AND DEPOSITION)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

D. Toet, T. Sigmon, T. Takehara, R. Qui, C.C. Tsai, W.R. Harshbarger

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_31

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6.2 INVITED ADDRESS : Advanced Dry Etch Processes for Use of Aluminum Alloys in AMLCDs(6.THIN FILM MATERIALS AND DEPOSITION)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

S.G. Kang, T. Choi, J. Holland

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_32_1

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6.3 Manufacturable Sputter-Deposited Indium Tin Oxide Thin Films Via Optical Emission Spectroscopy Closed-Loop Process Control(6.THIN FILM MATERIALS AND DEPOSITION)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

I.L Eisgruber, I.R. Engle, R.E. Hollingsworth, P.K. Bhat, R. Wendt

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_32_2

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6.4 MoW Gate Line Improvement with Kr Gas Sputtering(6.THIN FILM MATERIALS AND DEPOSITION)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

M. Ikeda, Y. Hara, M. Atsuta, Y. Tsuji, T. Oka, K. Suzuki, M. Takemura ...

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_33_1

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6.5 LaF3 Coated MgO Protecting Layer in AC-Plasma Display Panels(6.THIN FILM MATERIALS AND DEPOSITION)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

W.T. Lee, J.W. Lee, W.T. Park, H.R. Jang, S.G. Yu, S.J. Lee, J.M. Kim

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_33_2

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9.1 INVITED ADDRESS : Processing of Thick Resists with Scanning Projection Uthographic Tools(9.PHOTOLITHOGRAPKY AND PHOTORESIST COATING)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

D. Constantinide, M. Kilgo

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_34_1

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9.4 Modeling of Extrusion Coating for Applications in Electronics Manufacturing(9.PHOTOLITHOGRAPKY AND PHOTORESIST COATING)(1999 Display Manufacturing Technology Conference Report)

E.W. Kamenand, C. Popesw

原稿種別: Article
セッションID: IDY99-117
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_34_2

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[OTHERS]

原稿種別: 付録等
p. App1-
発行日: 1999/03/12
公開日: 2017/06/23

DOIhttps://doi.org/10.11485/itetr.23.23.0_App1

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