地質学雑誌
Online ISSN : 1349-9963
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117 巻, 7 号
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論説
  • 上総層群黄和田層とその相当層に介在するテフラの層序と対比
    鈴木 毅彦, 村田 昌則
    2011 年 117 巻 7 号 p. 379-397
    発行日: 2011/07/15
    公開日: 2011/12/10
    DOIhttps://doi.org/10.5575/geosoc.117.379
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    多摩丘陵，東京地下，房総半島，銚子地域において上総層群黄和田層中部とその相当層中テフラについて，記載岩石学的性質を明らかにし，それらの対比を試みた．上位からHM-Kd16，GS，NK，NB-Kd17，SG-Kd18，MT，Kd19，NG-YR，YU，PK，YM，KK，TN，Sr-Kmd，Ob4e-Kd23A，Ob4d-Kd23B，Ob4c-Kd24，屏風ヶ浦Ob4bテフラ群の4テフラ（Ob4b-6，-5，-4，-1），Omn-SK110の計22テフラについて新たに定義し，対比・分布を示した．また銚子地域における石灰質ナンノ化石対比基準面9－11の層位とその年代より，上記テフラの降下年代が1.343－1.633 Maにあると推定した．これらを含む層準の堆積物は堆積環境を反映して1.4－225 cm/kyrの範囲で堆積速度が地域により著しく異なることを論じた．
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  • 天草上島東部に分布する上部白亜系姫浦層群の層序と詳細な地質年代
    小城 祐樹, 小松 俊文, 岩本 忠剛, 高嶋 礼詩, 高橋 修, 西 弘嗣
    2011 年 117 巻 7 号 p. 398-416
    発行日: 2011/07/15
    公開日: 2011/12/10
    DOIhttps://doi.org/10.5575/geosoc.117.398
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    熊本県の天草上島の東部には，上部白亜系の姫浦層群が露出しており，姫浦層群は樋の島層と阿村層に区分されている．本調査地域の姫浦層群からは，アンモナイトやイノセラムスに加えて，放散虫や有孔虫などの微化石が多産する．樋の島層からは，有孔虫のDicarinella canaliculataと多くのMarginotruncana pseudolinneianaやイノセラムスのInoceramus amakusensis，アンモナイトのTexanites kawasakiiなどが産出したため，本層はサントニアン階と考えられる．阿村層の上部からは，Grobotruncana linneianaやG. cf. arcaなどからなるカンパニアン階を指示する有孔虫化石群集が産出し，さらにこれらの種は阿村層上部から多産する．したがって，サントニアン/カンパニアン境界は，おそらく阿村層の下部付近にある．なお，Amphipyndax stocki，Dictyomitra formosa，D. koslovaeなどで特徴づけられる樋の島層や阿村層の放散虫化石群集は，サントニアン～中期カンパニアン期を指示する．
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ノート
  • 高解像透過観察を可能にする大口径デジタル顕微鏡
    坂口 有人
    2011 年 117 巻 7 号 p. 417-421
    発行日: 2011/07/15
    公開日: 2011/12/10
    DOIhttps://doi.org/10.5575/geosoc.117.417
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    Standard optical microscopes are based on diffraction imaging, and their resolution is limited to half the wavelength of the illuminating light. In contrast, scattered-light imaging depends on the sharpness of the optics and is not limited by the wavelength. This technique is used mainly for reflective dark-field observations. The combination of a scattered-light illumination system and sharp optics may improve the resolution of the transmitting microscope. It is well known that the large objective lens in a telescope improves the resolution by reducing the diffraction rings. The digital microscope, designed for industrial applications, has a large objective lens and a 16-bit high-gradation image-processing system, resulting in a sharper image. In this paper, a digital microscope is compared with a standard microscope using the same condenser lens in both cases, which produces scattered light. To amplify the scattered light, the light beam around the optical axis is masked in the condenser lens. Although the standard microscope uses an objective lens with a higher numerical aperture (NA = 0.92) than the digital microscope (NA = 0.82), the digital microscope achieved a higher resolution (over 2500 line-pairs/mm) than the standard microscope, even under dry conditions. This resolving power is greater than that predicted by classical optical theory.
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口絵
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